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低價格硅片測溫專用型DT40P , 300~1300°C ,3.43μm

規格:DT40P , 300~1400°C ,3.43μm

單位:

瀏覽次數:4239

性能標簽:

低價格 ,半導體制造硅片測溫專用型DT40P , 300~1300°C ,400~1400°C ,3.43μm ;此型號還適合于聚丁烯、聚苯乙烯、聚亞胺酯、乙烯基、尼龍類塑料薄膜



產品詳細描述


 

半導體制造硅片測溫專用型DT40P


測溫范圍:300~1300°C ,400~1400°C


波長:3.43μm

 

 

主要應用:

 

1) 半導體制造硅片測溫


2) 塑料薄膜(聚丁烯、聚苯乙烯、聚亞胺酯、乙烯基、尼龍)

 

 

 性能指標

 

型號 DT40P
測溫范圍 300~1300°C
400~1400°C *
主要用途 半導體生產硅片測溫,聚丁烯、聚苯乙烯、聚亞胺酯、乙烯基、尼龍類塑料薄膜
光譜范圍 3.43µm
光學系數 300800,1200
距離系數 50:1
測量誤差1 1.0%測量值或1 K
重復精度1 0.5%測量值或0.5 K 
NETD2 0.1°C
響應時間(t95) 150ms, 可調達100 s
發射率 0.200~1.000
瞄準 *標注的為無瞄準(可選外置激光瞄準燈) *標注的可選內置LED瞄準燈
可調參數 發射率, 響應時間, 溫度單位°C°F, 存儲方式, 子測溫范圍, 可通過USB通信接口和軟件調整
供貨范圍 DT40P,操作手冊,安裝螺母,檢測單,Windows®PYROSOFT Spot,連接電纜需單獨訂貨
1經過黑體爐標定, Tamb=23°C, ε=1, t95=1s, 取最大值 2噪聲等溫差.  3  *可選內置LED瞄準.  

 

 

 

半導體硅片測溫 , 紅外測溫儀DT40P

 

 

 

 

高精度硅片測溫、塑料薄膜紅外測溫儀DY10P

 

 

 

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